MIELE, Antonio
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Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip
2017-01-01 Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents
2019-01-01 Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip | 1-gen-2017 | Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K | |
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents | 1-gen-2019 | Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C. |