MIELE, Antonio
MIELE, Antonio
Mostra
records
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.005 secondi).
Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip
2017-01-01 Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents
2019-01-01 Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip | 1-gen-2017 | Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K | |
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents | 1-gen-2019 | Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C. |