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Charge identification of fragments produced in 16O beam interactions at 200 MeV/n and 400 MeV/n on C and C2H4 targets 1-gen-2023 Galati, G.; Boccia, V.; Alexandrov, A.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Argirò, S.; Barbanera, M.; Bartosik, N.; Battistoni, G.; Bisogni, M. G.; Bruni, G.; Cavanna, F.; Cerello, P.; Ciarrocchi, E.; Colombi, S.; De Gregorio, A.; De Lellis, G.; Di Crescenzo, A.; Di Ruzza, B.; Donetti, M.; Dong, Y.; Durante, M.; Faccini, R.; Ferrero, V.; Finck, C.; Fiorina, E.; Francesconi, M.; Franchini, M.; Franciosini, G.; Galli, L.; Ionica, M.; Iuliano, A.; Kanxheri, K.; Kraan, A. C.; La Tessa, C.; Lauria, A.; Torres, E. Lopez; Magi, M.; Manna, A.; Marafini, M.; Massa, M.; Massimi, C.; Mattei, I.; Mengarelli, A.; Mereghetti, A.; Minniti, T.; Moggi, A.; Morone, M. C.; Morrocchi, M.; Muraro, S.; Pastrone, N.; Patera, V.; Pennazio, F.; Peverini, F.; Placidi, P.; Pullia, M.; Ramello, L.; Reidel, C.; Ridolfi, R.; Salvi, L.; Sanelli, C.; Sarti, A.; Sato, O.; Savazzi, S.; Scavarda, L.; Schiavi, A.; Schuy, C.; Scifoni, E.; Sciubba, A.; Servoli, L.; Silvestre, G.; Sitta, M.; Spighi, R.; Spiriti, E.; Tioukov, V.; Tomassini, S.; Tommasino, F.; Toppi, M.; Traini, G.; Trigilio, A.; Ubaldi, G.; Valetti, A.; Vanstalle, M.; Villa, M.; Weber, U.; Zarrella, R.; Zoccoli, A.; Montesi, M. C.
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