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Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents
2019-01-01 Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C.
Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip
2017-01-01 Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K
Application of failure mode and effect analysis (FMEA) to intracranial sterotactic radiosurgery by linear accelerator
2014-01-01 Masini, L; Donis, L; Loi, G; Mones, E; Molina, E; Bolchini, C; Krengli, Marco
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents | 1-gen-2019 | Cerotti, D.; Miele, A.; Gribaudo, M.; Bobbio, A.; Bolchini, C. | |
| Epistemic Uncertainty Propagation in a Weibull Environment for a Two-Core System-on-Chip | 1-gen-2017 | Pinciroli, R; Bobbio, A; Bolchini, CESARE ALBERTO; Cerotti, D; Gribaudo, M; Miele, Antonio; Trivedi, K | |
| Application of failure mode and effect analysis (FMEA) to intracranial sterotactic radiosurgery by linear accelerator | 1-gen-2014 | Masini, L; Donis, L; Loi, G; Mones, E; Molina, E; Bolchini, C; Krengli, Marco |
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